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关于STM32的AD基准问题


类别:技术文章
来源:未知
作者:未知
关键字:AD基准
加入日期:2013-1-2

STM32的64pin封装的AD不能加外部基准,也没有内部基准

STM32有一个内部的参考电压,接到了内部的ADCx_IN17通道,它用于提供一个参考的数值但不是基准。根据数据手册,在温度为-40至+105摄氏度范围内,这个参考电压为:最小值=1.16V、典型值=1.20V、最大值=1.24V。
测量这个参考电压的数值可以作为你的实际信号测量的参照。
关于AD测量的准确性问题,请务必把电源滤波做好,你可以参考ST的评估板上的电源部分,这个文档中有电路图:http://www.st.com/stonline/products/literature/um/13472.pdf

STM32的ADC供电是VDDA,参考电压是Vref+和Vref-
Vref+和Vref-只有100脚以上的产品才有独立引脚;64脚以下的产品Vref+在内部与VDDA相连,Vref-在内部与VSSA相连。

如果我设置的VREF正为3.3 那么在ADC换算的时候 代码中的公式:temp=(fload)adcx*(3.3/4096)
stm32的ad参考电压要求>2.4v

我想如果参考电源纹波做的比较好,温飘可以不用考虑,可用内部的参考电压进行校正参考电压。
我做仪表的,不管参考是否移动,出厂校验只要校验的系数能满足准确度就可以。
我想在调试的时候读出当前1.2V的AD值,并记录下来,并且当前一个系数也记录下来
以后运行,我根据采集当前的1.2V AD的值校验,校验系数,使要的参数仍旧能测准确

我的计算原理是4095/V参考电压=采集1.2VAD值/1.2v;
得出:V参考=4095*1.2v/采集1.2VAD值,可以得出每次计算的结果的参考电压只跟当前采集采集1.2V AD值有关系。
这样可以得到:当前的系数于与以前的系数的倍数关系,来求出当前校验所需要的系数,测量的结果仍然是正确的。

可以选择一个通道采样基准电源,然后根据该值对信号的采样值予以修正。可以选择单片机内部的基准源作为参考信号;
对普通信号与基准电源进行扫描模式采样。 扫描顺序为: 基准源 => 普通信号 => …普通信号… => 基准源 对信号采样值的修正,可以按如下公式进行: Ds = (Dso*4095*2)/(Dref1+Dref2) Dref1表示第一次对基准电源的原始采样结果; Dref2表示第二次对基准电源的原始采样结果; Dso表示对普通信号的原始采样结果; Ds表示最终的修正结果; 为防止溢出,使用u32型变量进行计算

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